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四探針面電阻測量儀SD-800采用四探針接觸式原理，用于測量導電膜層的面電阻，探針直徑大，針頭光滑，能伸縮，不易 劃傷膜層。儀器有多個量程范圍可自動選擇，以Ohm/sq或Siemens/sq顯示數據，校準數據和測量結果 自動存儲。
非接觸式面電阻測試儀Statometer G采用感應式測量原理，無探針接觸導電膜層，既可測量表面導電也可測量表面不導電的導電玻璃和導電膜層，是目前Low-E鍍膜生產普遍選用的優質選擇。
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